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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 81 Núm: 12 Par: 0 (2010) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Wavefield characterization of nearly diffraction-limited focused hard x-ray beam with size less than 10 nm

Takashi Kimura

Hidekazu Mimura

Soichiro Handa

Hirokatsu Yumoto

Hikaru Yokoyama

Shota Imai

Satoshi Matsuyama

Yasuhisa Sano

Kenji Tamasaku

Yoshiki Komura

Yoshinori Nishino

Makina Yabashi

Tetsuya Ishikawa

and Kazuto Yamauchi

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 0 - 0

NÚMERO

Volumen: 81 Número: 12 Parte: 0 (2010)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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