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TECHNOMETRICS

   
Inicio  /  TECHNOMETRICS  /  Vol: 51 Núm: 2 Par: 0 (2009)  /  Artículo
ARTÍCULO
TITULO

False Discovery Rate-Adjusted Charting Schemes for Multistage Process Monitoring and Fault Identification

Yanting Li    
Fugee Tsung    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 186 - 205

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