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Revista IDIEM

Inicio / Revista IDIEM / Vol: 12 Núm: 2 Par: 0 (1973) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Aplicación de la microscopía electrónica de barrido al estudio del cemento

Patricio Lyon

Pablo Kittl

Resumen

-

Acceso

PÁGINAS

pp. Pág. 98 - 102

NÚMERO

Volumen: 12 Número: 2 Parte: 0 (1973)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
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