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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE / Vol: 20 Núm: 2 Par: 0 (1998) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Analysis of Photometric Properties of Occluding Edges by the Reversed Projection Blurring Model

Asada

N

Fujiwara

H

Matsuyama

T

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 155 - 167

NÚMERO

Volumen: 20 Número: 2 Parte: 0 (1998)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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