Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
REVISTA
MATERIALS CHARACTERIZATION
TODAS
Inicio
/
MATERIALS CHARACTERIZATION
/
Vol: 48 Núm: 2-3 Par: 0 (2002)
/
Artículo
ARTÍCULO
TITULO
Studying the high-field electron conduction of tetrahedral amorphous carbon thin films by conducting atomic force microscopy
Luo
E. Z. Lin
S. Xie
Z. Xu
J. B. Wilson
I. H. Yu
Y. H. Yu
L. J. Wang
X.
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 205 - 210
NÚMERO
Volumen: 48 Número: 2-3 Parte: 0 (2002)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
Revistas destacadas
Infrastructures
Informed Infraestructure
BiT
Revista de la Construcción
Ver todas las revistas