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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 80 Núm: 4 Par: 0 (2009) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Reconstruction of atomic force microscopy image by using nanofabricated tip characterizer toward the actual sample surface topography

Mingsheng Xu

Daisuke Fujita

and Keiko Onishi

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 80 Número: 4 Parte: 0 (2009)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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