REVISTA
EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS

Inicio / EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS / Vol: 33 Núm: 4 Par: 0 (2007) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Clustered defect detection of high quality chips using self-supervised multilayer perceptron

Chenn-Jung

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 996 - 1003

NÚMERO

Volumen: 33 Número: 4 Parte: 0 (2007)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

REVISTAS SIMILARES

Applied Sciences

Artículos similares

Revistas destacadas

Acceso directo a los números publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los números publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los números publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los números publicados en la revista Revista de la Construcción

Revista de la Construcción

Ver todas las revistas