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ARTÍCULO
TITULO

Sample refinement and manipulation of silicon nanowires: A step towards single wire characterization

He    
J. Z. Xu    
J. B. Xie    
Z. Chiah    
M. F. Ke    
N. Cheung    
W. Y. Wilson    
I. H. Ma    
X. L. Tang    
Y. H. Wang    
N.    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 177 - 182
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