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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 80 Núm: 7 Par: 0 (2009) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Submicrometer resolution far field high sensitivity Kerr microscopy for in-plane magnetization detection

C. H. Wang and Z. Yang

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 0 - 0

NÚMERO

Volumen: 80 Número: 7 Parte: 0 (2009)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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