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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 45 Núm: 10 (2) Par: 0 (1997) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Automatic Netlist Extraction for Measurement-Based Characterization of Off-Chip Interconnect

Corey

S D

Yang

A T

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1934 - 1940

NÚMERO

Volumen: 45 Número: 10 (2) Parte: 0 (1997)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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