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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 74 Núm: 8 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Tip-sample distance control for near-field scanning microwave microscopes

Kim

M. S. Kim

S. Kim

J. Lee

K. Friedman

B. Kim

J.-T. Lee

J.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 3675 - 3678

NÚMERO

Volumen: 74 Número: 8 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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