REVISTA
EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS

Inicio / EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS / Vol: 33 Núm: 1 Par: 0 (2007) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Data mining for yield enhancement in semiconductor manufacturing and an empirical study

Chen-Fu Chien

Wen-Chih Wang and Jen-Chieh

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 192 - 198

NÚMERO

Volumen: 33 Número: 1 Parte: 0 (2007)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

Revistas destacadas

Acceso directo a los números publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los números publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los números publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los números publicados en la revista Revista de la Construcción

Revista de la Construcción

Ver todas las revistas