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Vol: 33 Núm: 1 Par: 0 (2007)
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ARTÍCULO
TITULO
Data mining for yield enhancement in semiconductor manufacturing and an empirical study
Chen-Fu Chien
Wen-Chih Wang and Jen-Chieh
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 192 - 198
NÚMERO
Volumen: 33 Número: 1 Parte: 0 (2007)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
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