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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 71 Núm: 5 Par: 0 (2000) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Characterization of phosphosilicate thin films using confocal Raman microscopy

Matthews

Manyalibo J.

Harris

Alexander L.

Bruce

Allan J.

Cardillo

Mark

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2117 - 2120

NÚMERO

Volumen: 71 Número: 5 Parte: 0 (2000)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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