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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 74 Núm: 1 Par: 2 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Photothermal microscopy of silicon epitaxial layer on silicon substrate with depletion region at the interface

Ikari

T. Roger

J. P. Fournier

D.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 553 - 555

NÚMERO

Volumen: 74 Número: 1 Parte: 2 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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