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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 74 Núm: 1 Par: 2 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal

Sato

S. Memon

A. Fukuyama

A. Tanaka

S. Ikari

T.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 340 - 342

NÚMERO

Volumen: 74 Número: 1 Parte: 2 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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