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ARTÍCULO
TITULO

Deep level photothermal spectroscopy for characterizing Ni impurities in Si by a temperature dependent piezoelectric photothermal signal

Sato    
S. Memon    
A. Fukuyama    
A. Tanaka    
S. Ikari    
T.    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 340 - 342