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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 81 Núm: 6 Par: 0 (2010) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Localization and preparation of recombination-active extended defects for transmission electron microscopy analysis

M. A. Falkenberg

H. Schuhmann

M. Seibt

and V. Radisch

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 0 - 0

NÚMERO

Volumen: 81 Número: 6 Parte: 0 (2010)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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