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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 79 Núm: 12 Par: 0 (2008) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Nanoscale lithography with frequency-modulation atomic force microscopy

Masayuki Hamada

T. Eguchi

K. Akiyama

and Y. Hasegawa

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 79 Número: 12 Parte: 0 (2008)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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