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ARTÍCULO
TITULO

Bent silicon crystal in the Laue geometry to resolve x-ray fluorescence for x-ray absorption spectroscopy

Kropf    
A. J. Finch    
R. J. Fortner    
J. A. Aase    
S. Karanfil    
C. Segre    
C. U. Terry    
J. Bunker    
G. Chapman    
L. D.    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 4696 - 4702

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