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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 76 Núm: 6 Par: 0 (2005) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Investigation of machine compliance uniformity for nanoindentation screening of wafer-supported libraries

Oden L. Warren

Arpit Dwivedi

Thomas J. Wyrobek

Olugbenga O. Famodu

and Ichiro Takeuchi

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. -

NÚMERO

Volumen: 76 Número: 6 Parte: 0 (2005)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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