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Vol: 80 Núm: 5 Par: 0 (2009)
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Quantitative displacement measurement of a nanotube cantilever with nanometer accuracy using epifluorescence microscopy
Hyojun Park
Soongeun Kwon
and Soohyun Kim
Resumen
No disponible
PÁGINAS
NÚMERO
Volumen: 80 Número: 5 Parte: 0 (2009)
MATERIAS
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