ARTÍCULO
TITULO

In situ manipulation and characterizations using nanomanipulators inside a field emission-scanning electron microscope

Kim    
K. S. Lim    
S. C. Lee    
I. B. An    
K. H. Bae    
D. J. Choi    
S. Yoo    
J.-E. Lee    
Y. H.    

Resumen

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