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REVISTA
IEEE SOFTWARE

   
Inicio  /  IEEE SOFTWARE  /  Vol: 22 Núm: 6 Par: 0 (2005)  /  Artículo
ARTÍCULO
TITULO

Improving After-the-Fact Tracing and Mapping: Supporting Software Quality Predictions

Hayes    
J.H.    
Dekhtyar    
A.    
Sundaram    
S.K.    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 30 - 37