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Vol: 52 Núm: 2 Par: 0 (2010)
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ARTÍCULO
TITULO
High-resolution CT-based defect analysis and dimensional measurement
O Brunke
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 91 - 0
NÚMERO
Volumen: 52 Número: 2 Parte: 0 (2010)
MATERIAS
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