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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 49 Núm: 2 Par: 0 (2001) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

The Origin of the Kink Phenomenon of Transistor Scattering Parameter S22

Lu

S-S

Meng

C

Chen

T-W

Chen

H-C

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 333 - 340

NÚMERO

Volumen: 49 Número: 2 Parte: 0 (2001)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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