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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 50 Núm: 12 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

The Danger of High-Frequency Spurious Effects on Wide Microstrip Line

Mesa

F. Jackson

D. R.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2679 - 2689

NÚMERO

Volumen: 50 Número: 12 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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