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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 48 Núm: 2 Par: 0 (2000) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Characterization of Flicker Noise in GaAs MESFET's for Oscillator Applications

Dallas

P A

Everard

J K A

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 245 - 257

NÚMERO

Volumen: 48 Número: 2 Parte: 0 (2000)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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