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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Vol: 79 Núm: 10 Par: 0 (2008)
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ARTÍCULO
TITULO
Robust Ohmic contact junctions between metallic tips and multiwalled carbon nanotubes for scanned probe microscopy
Suenne Kim
Jeehoon Kim
Morgann Berg
and Alex de Lozanne
Resumen
No disponible
PÁGINAS
NÚMERO
Volumen: 79 Número: 10 Parte: 0 (2008)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
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