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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 52 Núm: 4 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Built-In Redundancy Analysis for Memory Yield Improvement

Huang

C.-T. Wu

C.-F. Li

J.-F. Wu

C.-W.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 386 - 399

NÚMERO

Volumen: 52 Número: 4 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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