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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 45 Núm: 4 Par: 0 (1996) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Sensitivity of reliability-growth models to operational profile errors vs testing accuracy

Pasquini

Crespo

Matrella

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 531 - 540

NÚMERO

Volumen: 45 Número: 4 Parte: 0 (1996)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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