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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 45 Núm: 4 Par: 0 (1996) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Comment on: Bayes reliability growth model during a development testing program

Jain

N

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 610 - 610

NÚMERO

Volumen: 45 Número: 4 Parte: 0 (1996)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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