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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
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Vol: 55 Núm: 2 Par: 1 (2007)
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ARTÍCULO
TITULO
Optimum Bias Load-Line Compensates Temperature Variation of Junction Diode's RF Resistance
Bera
S. C.
Singh
R. V.
Garg
V. K.
Sharma
S. B.
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 215 - 221
NÚMERO
Volumen: 55 Número: 2 Parte: 1 (2007)
MATERIAS
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