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ARTÍCULO
TITULO

Development of a synchrotron biaxial tensile device for in situ characterization of thin films mechanical response

G. Geandier    
D. Thiaudière    
R. N. Randriamazaoro    
R. Chiron    
S. Djaziri    
B. Lamongie    
Y. Diot    
E. Le Bourhis    
P. O. Renault    
P. Goudeau    
A. Bouaffad    
O. Castelnau    
D. Faurie    
and F. Hild    

Resumen

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