REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 53 Núm: 1 Par: 0 (2005) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Large-scale broad-band parasitic extraction for fast layout verification of 3-D RF and mixed-signal on-chip structures

Feng Ling

Okhmatovski

V.I.

Harris

W.

McCracken

S.

Aykut Dengi

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 264 - 273

NÚMERO

Volumen: 53 Número: 1 Parte: 0 (2005)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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