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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 73 Núm: 7 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Contactless excitation and measurement method for inspection of microstructures and thin films

Kobayashi

T. Hara

T. Ohsawa

J. Yamaguchi

N.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2651 - 2654

NÚMERO

Volumen: 73 Número: 7 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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