Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
REVISTA
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
TODAS
Inicio
/
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
/
Vol: 73 Núm: 8 Par: 0 (2002)
/
Artículo
ARTÍCULO
TITULO
Precision auto-alignment for the specimen stage of an ellipsometer
Park
Sunglim
Jung
Jaewha
Gweon
DaeGab
Kim
Young Dong
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 2988 - 2993
NÚMERO
Volumen: 73 Número: 8 Parte: 0 (2002)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
REVISTAS SIMILARES
Applied Sciences
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Artículos similares
A new microscope optics for laser dark-field illumination applied to high precision two dimensional measurement of specimen displacement
Acceso
Naoki Noda and Shinji Kamimura
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Revistas destacadas
Infrastructures
Informed Infraestructure
BiT
Revista de la Construcción
Ver todas las revistas