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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 47 Núm: 2 Par: 0 (1998) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

MICROCIRCUITS -- DESIGN, PACKAGING, MANUFACTURE, TEST, USE - A metric for estimating the fault-secure behavior of digital circuits

McNamer

M

Kanopoulos

N

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 147 - 154

NÚMERO

Volumen: 47 Número: 2 Parte: 0 (1998)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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