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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 50 Núm: 11 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Modeling and Characterization of SiGe HBT Low-Frequency Noise Figures-of-Merit for RFIC Applications

Tang

J. Niu

G. Jin

Z. Cressler

J. D. Zhang

S. Joseph

A. J. Harame

D. L.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2467 - 2473

NÚMERO

Volumen: 50 Número: 11 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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