REVISTA
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 74 Núm: 10 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Atomic force microscope with improved scan accuracy, scan speed, and optical vision

Kwon

J. Hong

J. Kim

Y.-S. Lee

D.-Y. Lee

K. Lee

S.-m. Park

S.-i.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 4378 - 4383

NÚMERO

Volumen: 74 Número: 10 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

REVISTAS SIMILARES

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Artículos similares

Revistas destacadas

Acceso directo a los números publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los números publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los números publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los números publicados en la revista Revista de la Construcción

Revista de la Construcción

Ver todas las revistas