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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 50 Núm: 11 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A Spline Large-Signal FET Model Based on Bias-Dependent Pulsed I-V Measurement

Koh

K. Park

H.-M. Hong

S.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2598 - 2603

NÚMERO

Volumen: 50 Número: 11 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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