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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 55 Núm: 9 Par: 0 (2007) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

On the Deembedding Issue of CMOS Multigigahertz Measurements

Issaoun

A.

Yong Zhong Xiong

Jinglin Shi

Brinkhoff

J.

Fujiang Lin

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1813 - 1823

NÚMERO

Volumen: 55 Número: 9 Parte: 0 (2007)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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