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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

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Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 51 Núm: 11 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A Simple Four-Port Parasitic Deembedding Methodology for High-Frequency Scattering Parameter and Noise Characterization of SiGe HBTs

Liang

Q. Cressler

J. D. Niu

G. Lu

Y. Freeman

G. Ahlgren

D. C. Malladi

R. M. Newton

K. Harame

D. L.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2165 - 2174

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 11 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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